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关于晶体管输出光耦与可控硅输出光耦的精密测试操作方法

来源:作者:2013-09-06点击:326

注:此版包含晶体管输出,达灵顿输出,可控硅输出,IGBT驱动光耦,高速光耦,施密特输出测试方法以及测试结果判定标准。

设备简介

使用万用表需要注意:

测电流红色表笔就要插入mA孔

测电压红色表笔就要插入VΩHz孔

黑笔一直插COM孔

设备:

测试座(用以搭载被测材料)

信号发生器(用以提供所需的电压与电流信号)

万用表(用以检测相关参数)

测试线若干(连接上述设备)

测试相关步骤:

1. 确定被测光耦类型

2. 测试线连接

3. 参数设定

4. 进行测试

5. 判定材料是否OK  

测试常识:给电流测电压,给电压测电流

 

晶体管输出光耦测试方法

达林顿输出光耦测试方法

可控硅输出光耦测试方法

10M高速光耦测试方法

1M高速光耦测试&高速达灵顿系列测试方法

施密特触发器输出光耦测试方法

IGBT驱动光耦测试方法

——潮光光耦网整理编辑——

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