型号
  • 型号
  • 替代
  • 参数
  • 芯片打字
  • IGBT
  • 其它
  • 更多>
  位置:首页 >  光耦资料>> 光耦技术文档 >>晶体管输出光耦测试方案

晶体管输出光耦测试方案

来源:作者:2013-09-06点击:326

1、确定被测光耦类型

晶体管输出光耦主要测试CTR,他的内部原理图如下图所示,因此我们需要给他输入端一个电流,再测输出端的电流(需要在输出端加一个电压)

 

 

2、测试线连接

在测试线连接之前,我们要知道他的测试原理图,晶体管输出光耦测试原理图如下:                

电流源 电压源 万用表

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

实际连线:

 

为了方便说明,前面有对各个接口进行标明:

信号发生器 一、二、三、四、五
测试座 1、2、3、4、5、6、7、8
万用表 红笔、黑笔

 

上述连线说明:

1
2
红笔
黑笔 7
6

3.参数设定

信号发生器:左通道 10mA,右通道 5V

万用表:直流200mA 档位

4.进行测试

放入材料,反向放置,小圆孔朝上

5.判定标准

以厂商的CTR为标准进行判定,进行简单换算就可以知道,万用表上显示是多少mA时材料是OK的,下面是4NXX系列的CTR表,因为CTR=IC(万用表上的电流)/IF*100%,所以IC=CTR*IF。

IC 最小值,大于此值为OK

10mA
5mA
3mA
2mA
1mA

 

 

 

 

 

 

 

实例

下面是4N37的实际测量图。从下图我们可以看出,在输入电流IF=10mA的情况下,输出电流IC=15.33mA > 10mA,所以判定为OK,如果有兴趣可以算下它的:CTR=IC/IF*100%=15.33/10*100%= 153.3 %

 

达林顿输出光耦测试方法

可控硅输出光耦测试方法

10M高速光耦测试方法

1M高速光耦测试&高速达灵顿系列测试方法

施密特触发器输出光耦测试方法

IGBT驱动光耦测试方法

 

——潮光光耦网整理编辑——

转载请注明出处

 

 

填写您的邮件地址,订阅我们的精彩内容:
上一篇:关于晶体管输出光耦与可控硅输出光耦的精密测试操作方法
下一篇:可控硅输出光耦测试方法