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可控硅输出光耦测试方法

来源:作者:2013-09-06点击:326

MOC30XX系列,比如MOC3021MOC3023MOC3052MOC3063MOC3081

1. 确定被测光耦类型

双向可控硅输出光耦主要测试触发电流IFT,和VDRM,由于条件有限我们只测试纸测试在在他的IFT出是否能使光耦正常开启。因此我们需要测试他输出端在有一定电流时的电压值。

2. 测试线连接

测试原理图:

 

实际连线

上述连线说明
1
2
8
6
红笔 8
黑笔 6

3. 参数设定

信号发生器:左通道 IFT (5mA或10mA或15mA),右通道10mA

万用表:直流20V档位

4. 进行测试

放入材料

5. 判定标准

可控硅输出光耦是看输出端电压的变化,在IFT下,为导通,故电压较低为1-2V左右。

型号 左通道输入  IFT 万用表上面  电压
MOC30X1 15  mA 小于3V
MOC30X2 10  mA 小于3V
MOC30X3 5   mA 小于3V

备注:上面X可为1、2、3、4、5、6、8

实例

下面是对MOC3021进行测试,在IFT=15mA时,输出端的电压为1.13V < 3V,为OK。

 

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——潮光光耦网整理编辑——

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