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达林顿输出光耦测试方法

来源:作者:2013-09-06点击:326

4N29-4N33系列,H11B1H11G1H11G2MOC8021, MOC8050 

达灵顿输出光耦与晶体管输出光耦测试基本一致,具体接线图完全参照上面的晶体管输出光耦连线方式,不同的是他的测试参数设置不同,由下图我们可以看出,4N32和4N33在IF=10mA时他的IC最少能在50mA以上,CTR最小值都为500,实测他的CTR一般在2000以上。

由于我们的信号发生器最多只能输出50mA的电流,所以我对上面的条件进行修改,故判断标准也随之而变,具体输入条件个判断标准以下面的为准。

1.步骤同晶体管输出光耦

2.步骤同晶体管输出光耦

3.参数设定

信号发生器:左通道 1 mA,右通道5V

万用表:直流200mA档位

4.进行测试

5.判断标准 

型号 CTR IC最小值,大于此值为OK
4N324N33 500 5 mA
4N294N30 100 1 mA
4N31 50 0.5 mA

实例:

下面是测试4N33的示意图,我们可以看出它的CTR=21.5/1*100%=2150 >500为OK品,看电流也很明显看出IC=21.5mA>5mA为OK

 

 

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